Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://dspace.dsau.dp.ua/handle/123456789/6612
Назва: Вплив катіонної нестехіометрії та структурної невпорядкованості кисню в эпітаксіальних yba2cu3o7 плівках на надлишковий шум нормальної фази
Інші назви: Vplyv kationnoi nestekhiometrii ta strukturnoi nevporiadkovanosti kysniu v эpitaksialnykh yba2cu3o7 plivkakh na nadlyshkovyi shum normalnoi fazy
Автори: Дідоборець, Олександр Йосипович
Didoborets, Oleksandr Yosypovych
Ключові слова: епітаксіальні плівки
epitaksialni plivky
діаграма потрійних катіонних станів
diahrama potriinykh kationnykh staniv
шумовий параметр Хоуге
shumovyi parametr Khouhe
катіонна нестехіометрія
kationna nestekhiometriia
електронна мікроскопія
kationna nestekhiometriia
Дата публікації: 2002
Видавництво: Дніпропетровський державний аграрний університет
Бібліографічний опис: Дідоборець О. Й. Вплив катіонної нестехіометрії та структурної невпорядкованості кисню в эпітаксіальних yba2cu3o7 плівках на надлишковий шум нормальної фази : автореф. дис… канд. фіз.-мат. наук : [спец.] 01.04.07 - Фізика твердого тіла / Дідоборець Олександр Йосипович ; Дніпропетровський національний університет ; Дніпропетровський державний аграрний університет. – Дніпропетровськ : ДДАУ, 2002.– 22 с. – Режим доступу : http://dspace.dsau.dp.ua/jspui/handle/123456789/6612
Короткий огляд (реферат): Встановлені корреляції між інтенсивністю фліккер-шуму, величиною критичної температури Тс, струму jc і локального катіонного складу епітаксіальних плівок YBa2Cu3O7 з використанням діаграми потрійних катіонних станів. На діаграмі виявлені два розрізи з максимальними Тс і два розрізи з мінімальними температурами переходу в надпровідний стан. В зразках, стехіометричний склад яких відповідає максимальним Тc , основними джерелами шуму є переходи атомів кисню між позиціями двох субграток у CuO-площині, а в зразках з мінімальними Тс– ці переходи зосереджені поблизу розривів кисневих ланцюжків. Запропоновано механізм дефектоутворення, що відповідає даній топології, на основі якого проведено реконструкцію дефектів, які спостерігаються на зображеннях електронної мікроскопії. Correlations have been determinated between flicker noise intensivity, critical temperature values Tc, critical current jc and local cation composition of epitaxial YBa2Cu3O7 films with using triple phase diagram of the cation compositions. Two tie lines with the highest Tc and two lines with the lowest Tc have been found on the diagram. The primary source of noise in samples with the highest Tc is related to oxyden jumps between two sublattice positions in the CuO – plane, and in samples with the lowest Tc – these jumps are localised at the oxyden chain breaks. A mechanism of cation defect formation was proposed, which acount for for presence of this topology. The mechanism was verified by reconstructing cation defects observed in TEM images.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://dspace.dsau.dp.ua/jspui/handle/123456789/6612
Розташовується у зібраннях:Автореферати дисертацій

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Дідоборець О. Й..pdf363,85 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.